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一种双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法与流程

2025-04-10 15:20:06 527次浏览

技术特征:

1.一种双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法,其特征在于,包括如下步骤,

2.如权利要求1所述的双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法,其特征在于:在所述步骤3中,当服务器判定固态硬盘的k1开卡测试失败时,服务器定位测试失败的固态硬盘,并下发指令到对应的测试电脑,测试电脑通过双接口测试板的单片机芯片断掉固态硬盘和usb桥接芯片的电源,同时测试失败的固态硬盘测试座对应指示灯亮红灯提示测试人员该固态硬盘测试失败。

3.如权利要求2所述的双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法,其特征在于:在所述步骤5中,当服务器判定固态硬盘的rdt可靠性测试失败时,服务器定位测试失败的固态硬盘,并下发指令到对应的测试电脑,测试电脑通过双接口测试板的单片机芯片断掉固态硬盘和usb桥接芯片的电源,同时测试失败的固态硬盘测试座对应指示灯亮红灯提示测试人员该固态硬盘测试失败。

4.如权利要求3所述的双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法,其特征在于:在所述步骤7中,当服务器判定固态硬盘的k2开卡测试失败时,服务器定位测试失败的固态硬盘,并下发指令到对应的测试电脑,测试电脑通过双接口测试板的单片机芯片断掉固态硬盘和usb桥接芯片的电源,同时测试失败的固态硬盘测试座对应指示灯亮红灯提示测试人员该固态硬盘测试失败。

5.如权利要求4所述的双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法,其特征在于:在所述步骤9中,当服务器判定固态硬盘的bit老化测试失败时,服务器定位测试失败的固态硬盘,并下发指令到对应的测试电脑,测试电脑通过双接口测试板的单片机芯片断掉固态硬盘和usb桥接芯片的电源,同时测试失败的固态硬盘测试座对应指示灯亮红灯提示测试人员该固态硬盘测试失败。

6.如权利要求5所述的双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法,其特征在于:在所述步骤11中,当服务器判定固态硬盘的k3开卡测试失败时,服务器定位测试失败的固态硬盘,并下发指令到对应的测试电脑,测试电脑通过双接口测试板的单片机芯片断掉固态硬盘和usb桥接芯片的电源,同时测试失败的固态硬盘测试座对应指示灯亮红灯提示测试人员该固态硬盘测试失败。

7.如权利要求6所述的双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法,其特征在于:在所述步骤1中,固态硬盘在双接口智能切换的固态硬盘自动化设备上进行测试,双接口智能切换的固态硬盘自动化设备的服务器端能够通过网络连接到多台测试电脑,测试电脑能够通过双接口测试板的m2固态硬盘测试座连接到多片待测固态硬盘。

8.如权利要求7所述的双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法,其特征在于:在所述步骤1-12中,待测固态硬盘能够在一个m2固态硬盘测试座中完成固态硬盘的五站式分立测试。


技术总结
本发明提供一种双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法,包括:K1开卡测试、K2开卡测试、K3开卡测试和RDT可靠性测试智能切换到USB桥接芯片和USB接口连接到测试电脑,BIT老化测试智能切换到PCIe信号接口连接到测试电脑,同时通过服务器统一下发测试指令,测试电脑调用对应测试脚本,服务器全程实时监测并收集测试数据,能够统计和分析生成量产测试报告,标识和追踪测试失败的固态硬盘的位置。本发明的有益效果:能够在一个M2固态硬盘测试座中完成固态硬盘的五站式分立测试,大幅度提高了固态硬盘量产测试效率。

技术研发人员:沈嘉琦,姜敬青,吴礼优
受保护的技术使用者:深圳市金胜电子科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/11/14
文档序号 : 【 40000018 】

技术研发人员:沈嘉琦,姜敬青,吴礼优
技术所有人:深圳市金胜电子科技有限公司

备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
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沈嘉琦姜敬青吴礼优深圳市金胜电子科技有限公司
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