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一种双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法与流程

2025-04-10 15:20:06 517次浏览
一种双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法与流程

本发明涉及固态硬盘,尤其涉及一种双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法。


背景技术:

1、固态硬盘(solid state drives),简称固盘,固态硬盘(solid state drive)用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘,由控制单元和存储单元(flash芯片、dram芯片)组成。固态硬盘在接口的规范和定义、功能及使用方法上与传统硬盘的完全相同,在产品外形和尺寸上也完全与传统硬盘一致,但i/o性能相对于传统硬盘大大提升。被广泛应用于军事、车载、工控、视频监控、网络监控、网络终端、电力、医疗、航空、导航设备等领域。其芯片的工作温度范围很宽,商规产品(0~70℃)工规产品(-40~85℃)。虽然成本较高,但也正在逐渐普及到diy市场。由于固态硬盘技术与传统硬盘技术不同,所以产生了不少新兴的存储器厂商。厂商只需购买nand存储器,再配合适当的控制芯片,就可以制造固态硬盘了。新一代的固态硬盘普遍采用sata-3接口、m.2接口、msata接口、pci-e接口、sas接口、cfast接口和sff-8639接口。但是当固态硬盘长时间断电并在高温环境下放置将会面临数据丢失的风险。因此使用固态硬盘来备份数据并不是一个很好的选择。随着互联网的飞速发展,人们对数据信息的存储需求也在不断提升,现在多家存储厂商推出了自己的便携式固态硬盘,更有支持type-c接口的移动固态硬盘和支持指纹识别的固态硬盘推出。

2、在固态硬盘生产过程中,产品量产测试是固态硬盘生产中的一个非常重要的环节,常规的固态硬盘量产测试通常有k1开卡(烧录rdt固件)--->可靠性自测(rdt)--->k2开卡(继承rdt测试结果,烧录正常功能固件)--->bit老化测试(burn-in test)--->k3开卡(继承bit老化测试结果,烧录正常功能固件)五个步骤,即五站式分立测试方法,需要一步一步的进行测试,需要大量人力物力多次插拔操作,很容易出现误操作,测试效率也低,而且不便于测试数据的统计和分析。目前市场上虽然有nvme固态硬盘自动化量产测试设备,但是目前都是单口测试设备,固态硬盘直接通过pcie接口(总线接口)连接到电脑主机,由于pcie接口热拔插问题导致测试切换过程中经常出现认盘慢,认盘不全,蓝屏等问题,因此测试效率也比较低。


技术实现思路

1、为解决现有技术中的问题,本发明提供一种双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法,通过适时的智能切换连接不同的物理接口,就可以在一个m2固态硬盘测试座中完成固态硬盘的五站式分立测试,大幅度提高了固态硬盘量产测试效率,解决了现有技术中人工五站式分立测试效率低、容易出错、单口测试设备认盘慢、易认盘不全的问题。

2、本发明的一种双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法包括如下步骤:

3、步骤1:固态硬盘插入双接口测试板的m2固态硬盘测试座中,点击开始测试;

4、步骤2:服务器下发k1开卡测试指令至测试电脑,测试电脑控制高速信号切换开关芯片切换固态硬盘通过usb桥接芯片和usb接口连接到测试电脑,测试电脑调用k1开卡软件对待测试的固态硬盘做k1开卡测试;

5、步骤3:服务器读取k1开卡测试数据并分析固态硬盘的k1开卡测试是否通过;

6、步骤4:当服务器判定固态硬盘的k1开卡测试通过时,服务器下发rdt可靠性测试指令至测试电脑,固态硬盘继续通过usb桥接芯片和usb接口连接到测试电脑,测试电脑调用rdt可靠性测试软件对待测试的固态硬盘做rdt可靠性测试;

7、步骤5:服务器读取rdt可靠性测试数据并分析固态硬盘的rdt可靠性测试是否通过;

8、步骤6:当服务器判定固态硬盘的rdt可靠性测试通过时,服务器下发k2开卡测试指令至测试电脑,固态硬盘继续通过usb桥接芯片和usb接口连接到测试电脑,测试电脑调用k2开卡软件对待测试的固态硬盘做k2开卡测试;

9、步骤7:服务器读取k2开卡测试数据并分析固态硬盘的k2开卡测试是否通过;

10、步骤8:当服务器判定固态硬盘的k2开卡测试通过时,服务器下发bit老化测试指令至测试电脑,测试电脑控制高速信号切换开关芯片切换固态硬盘通过pcie信号接口连接到测试电脑,测试电脑调用bit老化测试软件对待测试的固态硬盘做bit老化测试;

11、步骤9:服务器读取bit老化测试数据并分析固态硬盘的bit老化测试是否通过;

12、步骤10:当服务器判定固态硬盘的bit老化测试通过时,服务器下发k3开卡测试指令至测试电脑,测试电脑控制高速信号切换开关芯片切换固态硬盘通过usb桥接芯片和usb接口连接到测试电脑,测试电脑调用k3开卡软件对待测试的固态硬盘做k3开卡测试;

13、步骤11:服务器读取k3开卡测试数据并分析固态硬盘的k3开卡测试是否通过;

14、步骤12:当服务器判定固态硬盘的k3开卡测试通过时,固态硬盘测试完成,产品合格。

15、本发明作进一步改进,在所述步骤3中,当服务器判定固态硬盘的k1开卡测试失败时,服务器定位测试失败的固态硬盘,并下发指令到对应的测试电脑,测试电脑通过双接口测试板的单片机芯片断掉固态硬盘和usb桥接芯片的电源,同时测试失败的固态硬盘测试座对应指示灯亮红灯提示测试人员该固态硬盘测试失败。

16、本发明作进一步改进,在所述步骤5中,当服务器判定固态硬盘的rdt可靠性测试失败时,服务器定位测试失败的固态硬盘,并下发指令到对应的测试电脑,测试电脑通过双接口测试板的单片机芯片断掉固态硬盘和usb桥接芯片的电源,同时测试失败的固态硬盘测试座对应指示灯亮红灯提示测试人员该固态硬盘测试失败。

17、本发明作进一步改进,在所述步骤7中,当服务器判定固态硬盘的k2开卡测试失败时,服务器定位测试失败的固态硬盘,并下发指令到对应的测试电脑,测试电脑通过双接口测试板的单片机芯片断掉固态硬盘和usb桥接芯片的电源,同时测试失败的固态硬盘测试座对应指示灯亮红灯提示测试人员该固态硬盘测试失败。

18、本发明作进一步改进,在所述步骤9中,当服务器判定固态硬盘的bit老化测试失败时,服务器定位测试失败的固态硬盘,并下发指令到对应的测试电脑,测试电脑通过双接口测试板的单片机芯片断掉固态硬盘和usb桥接芯片的电源,同时测试失败的固态硬盘测试座对应指示灯亮红灯提示测试人员该固态硬盘测试失败。

19、本发明作进一步改进,在所述步骤11中,当服务器判定固态硬盘的k3开卡测试失败时,服务器定位测试失败的固态硬盘,并下发指令到对应的测试电脑,测试电脑通过双接口测试板的单片机芯片断掉固态硬盘和usb桥接芯片的电源,同时测试失败的固态硬盘测试座对应指示灯亮红灯提示测试人员该固态硬盘测试失败。

20、本发明作进一步改进,在所述步骤1中,固态硬盘在双接口智能切换的固态硬盘自动化设备上进行测试,双接口智能切换的固态硬盘自动化设备的服务器端能够通过网络连接到多台测试电脑,测试电脑能够通过双接口测试板的m2固态硬盘测试座连接到多片待测固态硬盘。

21、本发明作进一步改进,在所述步骤1-12中,待测固态硬盘能够在一个m2固态硬盘测试座中完成固态硬盘的五站式分立测试。

22、本发明的有益效果是:本发明提供的一种双接口智能切换的固态硬盘自动化测试方法,通过适时的智能切换连接不同的物理接口,无需人工重复插拔固态硬盘到不同接口,就可以在一个m2固态硬盘测试座中完成固态硬盘的五站式分立测试,大幅度提升了固态硬盘自动化测试设备的认盘速度、测试速度和认盘稳定性,同时通过服务器统一下发测试指令,测试电脑调用对应测试脚本,服务器全程实时监测并收集测试数据,能够统计和分析生成量产测试报告,标识和追踪测试失败的固态硬盘的位置,大幅度提高了固态硬盘量产测试效率,解决了现有技术中人工五站式分立测试效率低、容易出错、单口测试设备认盘慢、易认盘不全的问题。

文档序号 : 【 40000018 】

技术研发人员:沈嘉琦,姜敬青,吴礼优
技术所有人:深圳市金胜电子科技有限公司

备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
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沈嘉琦姜敬青吴礼优深圳市金胜电子科技有限公司
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