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一种用于测试流水线存储器读取时间的电路、芯片及方法与流程

2025-04-28 10:20:01 111次浏览

技术特征:

1.一种用于测试流水线存储器读取时间的电路,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的电路,其特征在于,还包括:

3.如权利要求2所述的电路,其特征在于,还包括:

4.如权利要求3所述的电路,其特征在于,还包括时钟信号选择模块,其连接至所述流水线存储器的时钟位,且被配置为确定所述流水线存储器所使用的时钟信号,所述时钟信号选择模块包括:

5.如权利要求2所述的电路,其特征在于,所述输入模块包括:

6.如权利要求2所述的电路,其特征在于,所述第一、第二、第三可控延时模块包括多级串联的延时子模块,通过选择信号确定每一级延时子模块的输出,进而确定延时时长,其中所述延时子模块包括:

7.如权利要求2所述的电路,其特征在于,所述计时模块包括:

8.一种用于测试流水线存储器读取时间的方法,其特征在于,采用如权利要求1至7任一所述的电路,且包括步骤:

9.一种如权利要求8所述的方法,其特征在于,在被测地址位写入数据包括步骤:

10.一种芯片,其特征在于,包括如权利要求1至7任一所述的电路。


技术总结
本发明公开一种用于测试流水线存储器读取时间的电路,其包括判断模块及输入模块,其中判断模块用于判断流水线存储器的类型,以及输入模块连接至流水线存储器的被测地址位,且包括多个选择器,用于基于流水线存储器的类型、测试阶段确定流水线存储器的待测试位的输入。该电路可根据流水线存储器的类型确定测试输入信号,以实现不同类型多级流水线输出的存储器的读取时间的测试,同时,其还可以用于测试多级流水线输出的三态寻址存储器的搜索时间。

技术研发人员:杨俊,胡晓莉
受保护的技术使用者:青芯半导体科技(上海)有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/11/14
文档序号 : 【 39999534 】

技术研发人员:杨俊,胡晓莉
技术所有人:青芯半导体科技(上海)有限公司

备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
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杨俊胡晓莉青芯半导体科技(上海)有限公司
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