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低照度环境下的目标检测和识别方法

2025-03-31 15:00:07 184次浏览

技术特征:

1.一种低照度环境下的目标检测和识别方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种低照度环境下的目标检测和识别方法,其特征在于,所述s1包括:

3.根据权利要求2所述的一种低照度环境下的目标检测和识别方法,其特征在于,所述s2包括:

4.根据权利要求3所述的一种低照度环境下的目标检测和识别方法,其特征在于,所述s3包括:

5.根据权利要求4所述的一种低照度环境下的目标检测和识别方法,其特征在于,所述s3还包括:

6.根据权利要求5所述的一种低照度环境下的目标检测和识别方法,其特征在于,所述s4包括:

7.根据权利要求6所述的一种低照度环境下的目标检测和识别方法,其特征在于,所述s43中分类层、回归层的输出过程为:

8.根据权利要求7所述的一种低照度环境下的目标检测和识别方法,其特征在于,所述s4还包括:

9.根据权利要求7所述的一种低照度环境下的目标检测和识别方法,其特征在于,所述s5包括:


技术总结
本发明提供了一种低照度环境下的目标检测和识别方法,包括以下步骤:S1:对暗光图像进行直方图均衡化处理,得到第一图像;S2:对第一图像进行维纳滤波,得到第二图像;S3:构建风格变换网络;将第二图像输入至风格变换网络中,生成伪良好光照图像;S4:将伪良好光照图像输入目标检测网络中,进行检测识别;S5:目标检测网络中的分类层、回归层输出最终检测识别结果。以解决现有技术在光照条件欠佳的情况下,无法识别图像中目标区域的问题。

技术研发人员:秦俊,韩欢,蒋振刚,师为礼,苗雨,何飞,何巍,卢婷岚,于嘉鑫
受保护的技术使用者:长春理工大学
技术研发日:
技术公布日:2024/11/14
文档序号 : 【 40000322 】

技术研发人员:秦俊,韩欢,蒋振刚,师为礼,苗雨,何飞,何巍,卢婷岚,于嘉鑫
技术所有人:长春理工大学

备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
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秦俊韩欢蒋振刚师为礼苗雨何飞何巍卢婷岚于嘉鑫长春理工大学
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