基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法及装置

1.一种基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其特征在于，所述获取所述第一均匀亮度调制图像中像素饱和区域所对应的投影仪像素的最佳投射灰度值，包括：

3.根据权利要求2所述的基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其特征在于，所述获取所述第一均匀亮度调制图像的像素饱和区域信息，包括：

4.根据权利要求3所述的基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其特征在于，所述获取所述第一均匀亮度调制图像的像素饱和区域信息，还包括：

5.根据权利要求2所述的基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其特征在于，所述最佳投影亮度预测模型是通过以下步骤训练得到的：

6.根据权利要求1所述的基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其特征在于，所述基于所述第一编码条纹调制图像获取所述第一均匀亮度调制图像中各个像素饱和区域与投影仪投射平面对应区域之间的单应性关系，包括：

7.根据权利要求1所述的基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法，其特征在于，所述基于所述区域自适应亮度编码条纹图像获取物体表面的三维点云，包括：

8.一种基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量装置，其特征在于，包括：

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至7任一项所述基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法。

10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述基于局部自适应条纹亮度的结构光三维测量方法。