一种试剂仓、样本分析仪及温控组件的监控方法与流程

本发明涉及医疗，尤其涉及一种试剂仓、样本分析仪及温控组件的监控方法。

背景技术：

1、在ivd(in vitro diagnostic，体外诊断)仪器的研发过程中，温度控制是一项至关重要的功能。因为ivd仪器是一种对人体体液进行检测的仪器，因此，ivd仪器的检测环境需要模拟人体体温，以提供给ivd仪器检测所用到的试剂近似于人体温度的检测环境。此外，ivd仪器检测所用到的大多数试剂在存储和运输过程中都需要低温环境。因此，ivd仪器中的试剂仓作为试剂的主要存储区域，其用于控制温度的温控组件的监控就尤为重要。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述问题，提出了一种试剂仓、样本分析仪及温控组件的监控方法，实现了对ivd仪器中的试剂仓的温控组件的监控，能有效避免因温控组件的故障问题影响ivd仪器检测结果的准确度。

2、为实现上述目的，本发明在第一方面提供一种试剂仓，所述试剂仓包括温控组件和控制器；

3、所述温控组件用于检测所述试剂仓内的当前温度值；

4、所述控制器被配置为：获取所述温控组件的当前温度值，并根据当前温度值与所述温度监控范围的比较关系确定所述温控组件是否为故障状态；

5、还被配置为：在所述温控组件为非故障状态的情况下，根据所述当前温度值与预设温度值的比较关系，以及所述当前温度值与预设温度值的比较关系所持续的第一持续时长与预设时长的比较关系，确定所述温控组件是否为异常故障状态；

6、还被配置为：在所述温控组件为异常故障状态，输出异常故障信号。

7、可选地，所述控制器还被配置为：

8、在所述当前温度值持续大于、持续等于或持续小于预设温度值，且持续的第一持续时长大于所述预设时长的情况下，确定所述温控组件为异常故障状态，否则，确定所述温控组件为非异常故障状态。

9、可选地，所述控制器还被配置为：

10、在所述当前温度值处于所述温度监控范围之内的情况下，确定所述温控组件为非故障状态，否则，确定所述温控组件为故障状态。

11、可选地，所述控制器还被配置为：

12、在所述温控组件为故障状态的情况下，根据所述当前温度值与超限阈值的比较关系，以及所述当前温度值与超限阈值的比较关系所持续的第二持续时长与所述预设时长的比较关系，确定所述温控组件是否为超限故障状态；

13、还被配置为：在所述温控组件为超限故障状态的情况下，输出超限故障信号。

14、可选地，所述控制器还被配置为：

15、在所述当前温度值持续大于所述最大超限阈值，或持续小于所述最低超限阈值，且持续的第二持续时长小于或等于所述预设时长的情况下，确定所述温控组件为超限故障状态，否则，确定所述温控组件为非超限故障状态。

16、可选地，所述控制器还被配置为：

17、在所述温控组件为非超限故障状态的情况下，根据所述当前温度值与所述温度监控范围的最大值或最小值的比较关系，以及所述当前温度值与所述温度监控范围的最大值或最小值的比较关系所持续的第三持续时长与所述预设时长的比较关系，确定所述温控组件是否为异常故障状态；

18、还被配置为：在所述温控组件为异常故障状态的情况下，输出异常故障信号。

19、可选地，所述控制器还被配置为：

20、在所述当前温度值持续大于所述温度监控范围的最大值，或持续小于所述温度监控范围的最小值，且持续的第三持续时长大于所述预设时长的情况下，确定所述温控组件为异常故障状态，否则，确定所述温控组件为非异常故障状态。

21、可选地，所述控制器还被配置为：

22、在所述温控组件为非异常故障状态的情况下，输出过高过低故障信号。

23、为实现上述目的，本发明在第二方面提供一种样本分析仪，所述样本分析仪包括如第一方面任一项所述的试剂仓。

24、为实现上述目的，本发明在第三方面提供一种温控组件的监控方法，所述方法包括：

25、获取温控组件的当前温度值，并根据当前温度值与所述温度监控范围的比较关系确定所述温控组件是否为故障状态；

26、在所述温控组件为非故障状态的情况下，根据所述当前温度值与预设温度值的比较关系，以及所述当前温度值与预设温度值的比较关系所持续的第一持续时长与预设时长的比较关系，确定所述温控组件是否为异常故障状态；

27、在所述温控组件为异常故障状态，输出异常故障信号。

28、采用本发明实施例，具有如下有益效果：上述试剂仓包括温控组件和控制器；温控组件用于检测试剂仓内的当前温度值；控制器被配置为：获取温控组件的当前温度值，然后根据当前温度值与温度监控范围的比较关系确定温控组件是否为故障状态，在温控组件为非故障状态的情况下，根据当前温度值与预设温度值的比较关系，以及当前温度值与预设温度值的比较关系所持续的第一持续时长与预设时长的比较关系，确定温控组件是否为异常故障状态，在温控组件为异常故障状态，输出异常故障信号；即实现了对ivd仪器中的试剂仓的温控组件的监控，能有效避免因温控组件的故障问题影响ivd仪器检测结果的准确度。

1.一种试剂仓，其特征在于，所述试剂仓包括温控组件和控制器；

2.根据权利要求1所述的试剂仓，其特征在于，所述控制器还被配置为：

3.根据权利要求1所述的试剂仓，其特征在于，所述控制器还被配置为：

4.根据权利要求1所述的试剂仓，其特征在于，所述控制器还被配置为：

5.根据权利要求4所述的试剂仓，其特征在于，所述控制器还被配置为：

6.根据权利要求4所述的试剂仓，其特征在于，所述控制器还被配置为：

7.根据权利要求6所述的试剂仓，其特征在于，所述控制器还被配置为：

8.根据权利要求6所述的试剂仓，其特征在于，所述控制器还被配置为：

9.一种样本分析仪，其特征在于，所述样本分析仪包括如权利要求1至8任一项所述的试剂仓。

10.一种温控组件的监控方法，其特征在于，所述方法包括：