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基于器件属性概率分布的器件筛选方法、装置及存储介质与流程

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技术特征:

1.一种基于器件属性概率分布的器件筛选方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种基于器件属性概率分布的器件筛选方法,其特征在于,所述获取所述给定芯片区域内的器件列表,包括:

3.根据权利要求1所述的一种基于器件属性概率分布的器件筛选方法,其特征在于,所述获取所述给定芯片区域内的器件列表还包括:

4.根据权利要求1所述的一种基于器件属性概率分布的器件筛选方法,其特征在于,按顺序选择所述器件列表中的至少一个维度作为当前维度的具体过程包括:

5.根据权利要求1所述的一种基于器件属性概率分布的器件筛选方法,其特征在于,对所述当前样本剩余维度的属性值进行固定,得到所述当前维度的属性值的条件概率分布的具体过程包括:

6.根据权利要求1所述的一种基于器件属性概率分布的器件筛选方法,其特征在于,基于所述条件概率分布,确定所述当前维度的属性值的具体过程包括:

7.根据权利要求1所述的一种基于器件属性概率分布的器件筛选方法,其特征在于,重复所述选取新待测器件的步骤直至获得足够数量的待测器件,完成待测器件的筛选的具体过程包括:

8.根据权利要求1所述的一种基于器件属性概率分布的器件筛选方法,其特征在于,重复所述选取新待测器件的步骤直至获得足够数量的待测器件,完成待测器件的筛选的具体过程包括:

9.根据权利要求1所述的一种基于器件属性概率分布的器件筛选方法,其特征在于,获取所述给定芯片区域内的器件列表,包括:

10.根据权利要求1所述的一种基于器件属性概率分布的器件筛选方法,其特征在于,所述完成待测器件的筛选后,还包括:

11.根据权利要求1所述的一种基于器件属性概率分布的器件筛选方法,其特征在于,还包括:通过将待测器件连接到焊盘,对待测器件进行电性测试。

12.一种基于器件属性概率分布的器件筛选装置,其特征在于,包括:

13.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至权利要求11中任一项所述基于器件属性概率分布的器件筛选方法的步骤。


技术总结
本发明提供基于器件属性概率分布的器件筛选方法、装置及存储介质,涉及一种基于器件属性概率分布的器件筛选方法,包括:给定芯片区域,获取给定芯片区域内的器件列表;在器件列表中选取一个初始待测器件,作为当前样本;选取新待测器件;将新待测器件更新为当前样本,重复选取新待测器件的步骤直至获得足够数量的待测器件,完成待测器件的筛选。本申请从完整的器件列表中选取出的待测器件和完整器件列表服从相同的多维联合概率分布,能充分体现完整器件列表的原始统计特性,更好地满足器件筛选过程的需求。

技术研发人员:王山川,蓝帆
受保护的技术使用者:杭州广立微电子股份有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/11/14
文档序号 : 【 40000921 】

技术研发人员:王山川,蓝帆
技术所有人:杭州广立微电子股份有限公司

备 注:该技术已申请专利,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。
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王山川蓝帆杭州广立微电子股份有限公司
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